辐射抗干扰天线法一般从200MHz开始测试,最高到3GHz,需要在暗室中进行。国际标准参考ISO11452,当然现在大部分整车厂都有企业标准。
辐射抗干扰天线法的干扰一般通过两种途径来影响产品性能。一方面可能产品不是金属外壳或者金属外壳屏蔽性不好,干扰通过空间辐射耦合到信号回路中,产品出现失效。另一方面干扰耦合到产品线束,通过线束将干扰传导到信号上引起失效。如果是第一种情况一般有以下改善方法:
如果是塑料外壳,可以通过增加金属屏蔽层,或者提高外壳材料屏蔽性,从而在降成本的同时提高产品抗干扰能力。
如果是金属外壳,可以提高上盖和下盖之间电气连接性,是不是表层被氧化了或者有绝缘涂层。还有就是上下盖之间缝隙太大,可以考虑用金属密封条,或者结构上做镶嵌式处理。
如果是金属外壳,金属外壳接地也是需要重点考虑的。外壳是单点接地还是多点接地。测试中用的是铜箔还是编织带,实车上是接的车身地还是发动机地都要考虑。
如果是第二种情况一般有以下改善方法:
改变线束长度,根据天线效应改变线束长度可以减少天线效应。当然在零部件测试时可操作的空间较少,整车环境中可操作空间较大。
改变线束的属性,例如用屏蔽线,用双绞线。如果是屏蔽线,屏蔽地的连接很关键。避免猪尾巴现象,尽量实现360°压接,当然屏蔽线的屏蔽性能在选材的时候也需要考虑的。如果是双绞线那就考虑绞距了,还有常见问题是开始双绞很好,到了末端随便弄一下,结果前功尽弃。
提高端口抗干扰能力。如根据失效频段改变电容值,改变滤波器件的接地点。
改变信号回路。
提高器件抗干扰能力。
改变信号阈值。
其他软件滤波方法。
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